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IGBT動態參數測試系統
文章來源:handler 時間:2020-07-24 03-16-59

 IGBT開關特性測試      

IGBT動態參數測試系統是全智能高速測試系統,可用于1200V/1700V/3300V的IGBT模塊開通時間、關斷時間、快恢復二極管反向恢復時間、反向電流及反向恢復電荷的測試,通過示波器采集波形,由計算機處理數據并顯示測試結果。

通過配置不同的夾具單元,可實現對不同封裝器件的測試。

                           

開關時間測試條件                                         

IC:1A-1000A  

VCE:5V—3500V(可擴展)                       

Vgs:-10V—+20V  

Rg:1R—100R可調(可選擇4檔及外接)     

負載:感性負載阻性負載可切換                                

電感范圍:100uH,200uH,500uH,1000uH                    

電阻范圍:0.5R , 1R , 2R , 4R                       

                   

二極管反向恢復特性測試

反向恢復時間trr:20ns—2us

反向恢復電荷Qc:10nC-10uC

反向恢復電流Irm:1A—1000A

反向恢復損耗Erec:0.1mJ-1000mJ

備注:IGBT動態參數測試系統,功能可擴展,可根據客戶要求定制。

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