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少子壽命測試儀
文章來源:handler 時間:2020-07-24 02-59-26

此設備采用開路電壓衰減法設計,開路電壓衰減法是測試少子壽命的 一種方法。適合于測量PN結參雜區的少子壽命。被測得PN結P側和N側要分別形成歐姆接觸。(測試的前提是必須形成PN結和歐姆接觸)。測試PN結兩端的電壓波形,即可反映少子壽命的變化情況。

少子壽命測試范圍:100Ns-1Ms

測試樣品規格:φ6-φ75

少子壽命測試重復性:≤2%

測試形式:自動測試

測試方法:開路電壓衰減法

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